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Low energy ion beam assisted deposition of TiN thin films on silicon
J. H. Huang,
Chun-Hsiung Lin
, C. H. Ma, Haydn Chen
國際半導體產業學院
研究成果
:
Article
›
同行評審
16
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Low energy ion beam assisted deposition of TiN thin films on silicon」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
TiN Thin Films
100%
Resistivity
100%
Low-energy Ion Beam
100%
Ion Energy
100%
Ion Beam Assisted Deposition
100%
Microstructure
50%
Si (100) Substrate
50%
Deposition Methods
50%
Deposition Temperature
50%
Preferred Orientation
50%
Ion-induced Defects
50%
Ion Deposition
50%
Process Parameters Influence
50%
Incident Angle
50%
Engineering
Thin Films
100%
Ion Energy
100%
Assisted Deposition
100%
Deposition Method
50%
Deposition Temperature
50%
Major Factor
50%
Preferred Orientation
50%
Process Parameter
50%
Incident Angle
50%
Induced Defect
50%
Material Science
Thin Films
100%
Electrical Resistivity
100%
Silicon
100%
Ion Beam Assisted Deposition
100%
Film
50%