Low-capaeitance SCR with waffle layout structure for on-chip ESD protection in RF ICs

Chun Yu Lin*, Ming-Dou Ker

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    12 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Low-capaeitance SCR with waffle layout structure for on-chip ESD protection in RF ICs」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Engineering & Materials Science