Latchup test-induced failure within ESD protection diodes in a high-voltage CMOS IC product

I. Cheng Lin*, Chuan Jane Chao, Ming-Dou Ker, Jen Chou Tseng, Chung Ti Hsu, Len Yi Leu, Yu Lin Chen, Chia Ku Tsai, Ren Wen Huang

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    3 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Latchup test-induced failure within ESD protection diodes in a high-voltage CMOS IC product」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Engineering & Materials Science