Investigation on ESD Robustness of 1200-V D- Mode GaN MIS-HEMTs with HBM ESD Test and TLP Measurement

Chao Yang Ke, Wei Cheng Wang, Ming Dou Ker, Chih Yi Yang, Edward Yi Chang

研究成果: Conference contribution › 同行評審

5 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Investigation on ESD Robustness of 1200-V D- Mode GaN MIS-HEMTs with HBM ESD Test and TLP Measurement」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Physics