Investigation of the Gate-Driven Effect and Substrate-Triggered Effect on BSD Robustness of CMOS Devices

Tung Yang Chen*, Ming-Dou Ker

*此作品的通信作者

    研究成果: Article › 同行評審

    85 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Investigation of the Gate-Driven Effect and Substrate-Triggered Effect on BSD Robustness of CMOS Devices」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering