Investigation of Nitrous Oxide Nitridation Temperatures on P-Type Pi-Gate Poly-Si Junctionless Accumulation Mode TFTs

Dong Ru Hsieh, Kun Cheng Lin, Tien-Sheng Chao*

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

3 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Investigation of Nitrous Oxide Nitridation Temperatures on P-Type Pi-Gate Poly-Si Junctionless Accumulation Mode TFTs」主題。共同形成了獨特的指紋。

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