跳至主導覽 跳至搜尋 跳過主要內容

Investigation of gate oxide short in FinFETs and the test methods for FinFET SRAMs

研究成果: Conference contribution › 同行評審

11 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Investigation of gate oxide short in FinFETs and the test methods for FinFET SRAMs」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering

Physics

Material Science