Investigation of channel backscattering characteristics for nanoscale SOI MOSFETs using a new temperature-dependent method

Wei Lee*, Pin Su

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution同行評審

    原文English
    主出版物標題2008 IEEE International SOI Conference Proceedings
    頁面73-74
    頁數2
    DOIs
    出版狀態Published - 2008
    事件2008 IEEE International SOI Conference - New Paltz, NY, 美國
    持續時間: 6 10月 20089 10月 2008

    出版系列

    名字Proceedings - IEEE International SOI Conference
    ISSN(列印)1078-621X

    Conference

    Conference2008 IEEE International SOI Conference
    國家/地區美國
    城市New Paltz, NY
    期間6/10/089/10/08

    引用此