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Investigation and comparison of work function variation for FinFET and UTB SOI devices using a voronoi approach

  • Shao Heng Chou*
  • , Ming Long Fan
  • , Pin Su
  • *此作品的通信作者

    研究成果: Article同行評審

    46 引文 斯高帕斯(Scopus)

    指紋

    深入研究「Investigation and comparison of work function variation for FinFET and UTB SOI devices using a voronoi approach」主題。共同形成了獨特的指紋。
    排序方式

    Keyphrases

    Material Science

    Physics