Intrinsic Transconductance Extraction for Deep-Submicrometer MOSFET's

J. Chung, M. C. Jeng, G. May, P. K. Ko, Chen-Ming Hu

研究成果: Article同行評審

12 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Intrinsic Transconductance Extraction for Deep-Submicrometer MOSFET's」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Material Science