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Intrinsic Difference between 2-D Negative-Capacitance FETs with Semiconductor-on-Insulator and Double-Gate Structures
Wei Xiang You,
Pin Su
*
*
此作品的通信作者
電子研究所
智慧半導體奈米系統技術研究中心
研究成果
:
Article
›
同行評審
16
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Intrinsic Difference between 2-D Negative-Capacitance FETs with Semiconductor-on-Insulator and Double-Gate Structures」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Field-effect Transistors
100%
Double Gate Structure
100%
Carbon Nanotube Field Effect Transistor (CNTFET)
100%
Semiconductor-insulator Interfaces
100%
Double Gate
66%
Subthreshold Swing
66%
Negative Capacitance
66%
Internal Charge
66%
Capacitance
33%
Low Power Applications
33%
Transition Metal Dichalcogenides
33%
Subthreshold
33%
Gate Metal
33%
Bias Dependence
33%
Voltage Gain
33%
Back Gate
33%
Semiconductor Characteristic
33%
Capacitance Design
33%
Capacitance Matching
33%
Charging Voltage
33%
Metal-ferroelectric-metal-insulator-semiconductor (MFMIS)
33%
Design Space
33%
Large Curvature
33%
Large Design Space
33%
Gain Matching
33%
Material Science
Field Effect Transistor
100%
Capacitance
100%
Ferroelectric Material
33%
Transition Metal Dichalcogenide
16%