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Interface traps and random dopants induced characteristic fluctuations in emerging MOSFETs

  • Yiming Li*
  • , Hui Wen Cheng
  • , Yung Yueh Chiu
    • *此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

8 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Interface traps and random dopants induced characteristic fluctuations in emerging MOSFETs」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering

Material Science

Physics

Computer Science