Influence of rf sputter power on ZnO film characteristics for transparent memristor devices

Firman Mangasa Simanjuntak*, Takeo Ohno, Seiji Samukawa

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

22 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Influence of rf sputter power on ZnO film characteristics for transparent memristor devices」主題。共同形成了獨特的指紋。

Physics & Astronomy