Industry standard FDSOI compact model BSIM-IMG for IC design

  • Chenming Hu
  • , Sourabh Khandelwal
  • , Yogesh Singh Chauhan
  • , Thomas McKay
  • , Josef Watts
  • , Juan Pablo Duarte
  • , Pragya Kushwaha
  • , Harshit Agarwal

研究成果: Book › 同行評審

12 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Industry standard FDSOI compact model BSIM-IMG for IC design」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Material Science