Incorporation of a Simple ESD Circuit in a 650V E-Mode GaN HEMT for All-Terminal ESD Protection

Jian Hsing Lee*, Yeh Jen Huang, Li Yang Hong, Li Fan Chen, Yeh Ning Jou, Shin Cheng Lin, Walter Wohlmuth, Chih Cherng Liao, Ching Ho Li, Shoa Chang Huang, Ke Horng Chen

*此作品的通信作者

研究成果: Conference contribution › 同行評審

5 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Incorporation of a Simple ESD Circuit in a 650V E-Mode GaN HEMT for All-Terminal ESD Protection」主題。共同形成了獨特的指紋。

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