Improvement on ESD robustness of lateral DMOS in high-voltage CMOS ICs by body current injection

Wen Yi Chen*, Ming-Dou Ker, Yeh Ning Jou, Yeh Jen Huang, Geeng Lih Lin

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    12 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Improvement on ESD robustness of lateral DMOS in high-voltage CMOS ICs by body current injection」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Engineering & Materials Science