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國立陽明交通大學研發優勢分析平台 首頁
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Improve the electrical properties of NILC poly-Si films using a gettering substrate
Yew-Chuhg Wu
,
Chen-Ming Hu
, Chi Ching Lin
材料科學與工程學系
國際半導體產業學院
研究成果
:
Conference contribution
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Improve the electrical properties of NILC poly-Si films using a gettering substrate」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Polysilicon
71%
Crystallization
67%
Electric properties
65%
Substrates
43%
Amorphous silicon
42%
Metals
39%
Thin film transistors
39%
Leakage currents
33%
Precipitates
31%
Impurities
29%
Chemical Compounds
Gettering
100%
Polycrystalline Solid
55%
Electrical Property
51%
Crystallization
43%
Amorphous Silicon
41%
Leakage Current
40%
Liquid Film
29%