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Impacts of surface nitridation on crystalline ferroelectric phase of Hf
1-x
Zr
x
O
2
and ferroelectric FET performance
Yi Jan Lin, Chih Yu Teng,
Chen-Ming Hu
,
Chun-Jung Su
,
Yuan-Chieh Tseng
*
*
此作品的通信作者
智慧半導體奈米系統技術研究中心
國際半導體產業學院
電子物理學系
奈米科學及工程學士學位學程
研究成果
:
Article
›
同行評審
15
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Impacts of surface nitridation on crystalline ferroelectric phase of Hf
1-x
Zr
x
O
2
and ferroelectric FET performance」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Surface Nitridation
100%
Ferroelectric Phase
100%
Hf0.5Zr0.5O2
100%
Ferroelectric Field-effect Transistor (FeFET)
100%
In Situ
33%
Orthorhombic Phase
33%
Phase Formation
33%
NH3 Treatment
33%
High-resolution
16%
Reliability Performance
16%
Leakage Current
16%
Oxygen Vacancy
16%
Memory Window
16%
Transfer Characteristics
16%
NH3 Plasma Treatment
16%
Treatment Scheme
16%
Unstable Behavior
16%
Interfacial Diffusion
16%
Tin Electrodes
16%
Cyclic Operation
16%
HAXPES
16%
Non-disruptive
16%
Ferroelectric Performance
16%
Engineering
Phase Formation
100%
Field Effect Transistor
50%
Ray Photoelectron Spectroscopy
50%
High Resolution
50%
Plasma Treatment
50%
Oxygen Vacancy
50%
Interfacial Diffusion
50%
Material Science
Ferroelectric Material
100%
Nitriding
100%
Surface (Surface Science)
100%
Field Effect Transistor
16%
Oxygen Vacancy
16%
Photoemission Spectroscopy
16%