Impacts of gate structure on dynamic threshold SOI nMOSFETs

Wen Cheng Lo*, Sun Jay Chang, Chun Yen Chang, Tien-Sheng Chao

*此作品的通信作者

    研究成果: Article同行評審

    17 引文 斯高帕斯(Scopus)

    指紋

    深入研究「Impacts of gate structure on dynamic threshold SOI nMOSFETs」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Engineering & Materials Science

    Chemical Compounds