Impacts of gate structure on dynamic threshold SOI nMOSFETs

Wen Cheng Lo*, Sun Jay Chang, Chun Yen Chang, Tien-Sheng Chao

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

17 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Impacts of gate structure on dynamic threshold SOI nMOSFETs」主題。共同形成了獨特的指紋。

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