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Impact of back gate bias on hot-carrier effects of n-channel Tri-Gate FETs (TGFETs)

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    7 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Impact of back gate bias on hot-carrier effects of n-channel Tri-Gate FETs (TGFETs)」主題。共同形成了獨特的指紋。
    排序方式

    Keyphrases

    Engineering

    Material Science