Impact of back gate bias on hot-carrier effects of n-channel Tri-Gate FETs (TGFETs)

Chia Pin Lin*, Bing-Yue Tsui

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    7 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Impact of back gate bias on hot-carrier effects of n-channel Tri-Gate FETs (TGFETs)」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering