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How to analyze technology life cycle from the perspective of patent characteristics?
Pei Chun Lee,
Hsin-Ning Su
科技管理研究所
研究成果
:
Conference contribution
›
同行評審
9
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「How to analyze technology life cycle from the perspective of patent characteristics?」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Patent Characteristics
100%
Technology Life Cycle
100%
Patent Application
20%
Number of Patents
20%
Technological Innovation
20%
Market Value
20%
Patent Value
20%
Four-stage
20%
Technology Evolution
20%
Non-patent References
20%
Activity Indicators
20%
Patent Indicators
20%
Potential Market
20%
Patent Activity
20%
Good Deal
20%
1 Introduction
20%
Appropriability
20%
Decline Stage
20%
Maturity Stage
20%
S-curve
20%
Economics, Econometrics and Finance
Life Cycle
100%
Technological Innovation
14%
Market Value
14%
Market Size
14%
Social Sciences
Life Cycle
100%
Scientific Innovations
14%
Optical Discs
14%