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Forming-Free SiGeOx/TiOy Resistive Random Access Memories Featuring Large Current Distribution Windows

  • Chun-Hu Cheng
  • , Albert Chin
  • , Hsiao-Hsuan Hsu*
    • *此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

指紋

深入研究「Forming-Free SiGeOx/TiOy Resistive Random Access Memories Featuring Large Current Distribution Windows」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering

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Physics