First-principles analysis of interfacial nanoscaled oxide layers of bonded N - And P -type GaAs wafers
Hao Ouyang*, Hsiao Hao Chiou, Yew-Chuhg Wu, Ji Hao Cheng, Wen Ouyang
*此作品的通信作者
研究成果: Article › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）