Fatigue Mechanism of Antiferroelectric Hf0.1Zr0.9O2 Toward Endurance Immunity by Opposite Polarity Cycling Recovery (OPCR) for eDRAM
K. Y. Hsiang, J. Y. Lee, Z. F. Lou, F. S. Chang, Y. C. Chen, Z. X. Li, M. H. Liao, C. W. Liu, T. H. Hou, P. Su, M. H. Lee*
*此作品的通信作者
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引文
斯高帕斯（Scopus）