Failure of on-chip power-rail ESD clamp circuits during system-level ESD test

Cheng Cheng Yen*, Ming-Dou Ker

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    13 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Failure of on-chip power-rail ESD clamp circuits during system-level ESD test」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

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