Exploration and evaluation of TCAM with hybrid tunneling FET and FinFET devices for ultra-low-voltage applications

  • Meng Hsuan Tu
  • , Yin Nien Chen
  • , Pin Su
  • , Ching Te Chuang

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    2 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Exploration and evaluation of TCAM with hybrid tunneling FET and FinFET devices for ultra-low-voltage applications」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering

    Material Science

    Computer Science