Experimental Analysis of Quasi-Ballistic Transport in Advanced Si n FinFETs Using New Extraction Method

Ming Huei Lin*, Pin Su, Hou Yu Chen, Jen Hsiang Lu, Vincent S. Chang, Shyh Horng Yang

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

5 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Experimental Analysis of Quasi-Ballistic Transport in Advanced Si n FinFETs Using New Extraction Method」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Earth and Planetary Sciences