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Existence of Single-Event Double-Node Upsets (SEDU) in Radiation-Hardened Latches for Sub-65nm CMOS Technologies

研究成果: Conference contribution › 同行評審

4 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Existence of Single-Event Double-Node Upsets (SEDU) in Radiation-Hardened Latches for Sub-65nm CMOS Technologies」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Material Science

Engineering