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國立陽明交通大學研發優勢分析平台 首頁
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Event-driven incremental timing fault simulator
Shyh-Jye Jou
*
, S. H. Chiou, Y. S. Tao, W. Z. Shen
*
此作品的通信作者
電子研究所
研究成果
:
Article
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Event-driven incremental timing fault simulator」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Fault Simulator
100%
Multiple Sets
100%
Timing Fault
100%
Simulation Techniques
50%
Signal Simulation
50%
Open-circuit Voltage
50%
Multiprocessor Systems
50%
Time Information
50%
Time-dependent Simulation
50%
Transistor Level
50%
Parallel Simulation
50%
Degradation Fault
50%
In-space
50%
Physical Faults
50%
Memory Precision
50%
Threshold Voltage Degradation
50%
Short Line
50%
Multiple Faults
50%
Computer Science
Simulation Mode
100%
Multiprocessor System
100%
Threshold Voltage
100%
Timing Information
100%
Parallel Simulation
100%
Physical Fault
100%