Evaluation of 2d negative-capacitance fets for low-voltage SRAM applications

Kuei Yang Tseng, Wei Xiang You, Pin Su

研究成果: Conference contribution同行評審

3 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Evaluation of 2d negative-capacitance fets for low-voltage SRAM applications」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Material Science

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Engineering