ESD protection strategy for sub-quarter-micron CMOS technology: Gate-driven design versus substrate-triggered design

T. Y. Chen*, Ming-Dou Ker

*此作品的通信作者

    研究成果: Paper › 同行評審

    7 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「ESD protection strategy for sub-quarter-micron CMOS technology: Gate-driven design versus substrate-triggered design」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Engineering & Materials Science

    Physics & Astronomy

    Chemical Compounds