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ESD protection for slew-rate-controlled output buffer in a 0.5 μm CMOS SRAM technology
Ming-Dou Ker
, Chau Neng Wu
*
*
此作品的通信作者
電子研究所
研究成果
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指紋
指紋
深入研究「ESD protection for slew-rate-controlled output buffer in a 0.5 μm CMOS SRAM technology」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Breakdown Voltage
12%
Circuit Performance
12%
CMOS SRAM
100%
Coupled Field
62%
Coupling Capacitor
12%
Deep Submicron Technology
12%
Device Structure
25%
Double Diode Structures
12%
ESD Protection
100%
ESD Protection Design
37%
Field Oxide Device
100%
Layout Area
12%
NMOS Transistor
12%
Output Buffer
100%
P-well
25%
Parasitic Capacitor
12%
Protection Efficiency
12%
Salicide
12%
Series Resistor
12%
Slew Rate
100%
Snapback
12%
Transient Voltage
12%
Transistor
12%
Trigger Voltage
12%
Wafer
12%
Wire Bonding
12%
Engineering
Bonding Wire
33%
Breakdown Voltage
33%
Circuit Performance
33%
Controlled Output
100%
Coupling Capacitor
33%
Device Structure
66%
Series Resistor
33%
Slew Rate
100%
Transients
33%
Material Science
Capacitor
25%
Electronic Circuit
12%
Oxide Compound
100%
Transistor
25%