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ESD protection for slew-rate-controlled output buffer in a 0.5 μm CMOS SRAM technology

研究成果: Article › 同行評審

指紋

深入研究「ESD protection for slew-rate-controlled output buffer in a 0.5 μm CMOS SRAM technology」主題。共同形成了獨特的指紋。
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Keyphrases

Engineering

Material Science