ESD protection for slew-rate-controlled output buffer in a 0.5 μm CMOS SRAM technology

Ming-Dou Ker, Chau Neng Wu*

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

指紋

深入研究「ESD protection for slew-rate-controlled output buffer in a 0.5 μm CMOS SRAM technology」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Material Science