ESD protection for output pad with well-coupled field-oxide device in 0.5-/nm CMOS technology

Chau Neng Wu*, Ming-Dou Ker

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

8 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「ESD protection for output pad with well-coupled field-oxide device in 0.5-/nm CMOS technology」主題。共同形成了獨特的指紋。

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