ESD protection for CMOS ASIC in noisy environments with high-current low-voltage triggering SCR devices

Ming-Dou Ker*

*此作品的通信作者

研究成果: Conference article › 同行評審

9 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「ESD protection for CMOS ASIC in noisy environments with high-current low-voltage triggering SCR devices」主題。共同形成了獨特的指紋。

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