ESD protection design with lateral DMOS transistor in 40-V BCD technology

Chang Tzu Wang*, Ming-Dou Ker

*此作品的通信作者

    研究成果: Article › 同行評審

    36 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「ESD protection design with lateral DMOS transistor in 40-V BCD technology」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Material Science

    Engineering

    Computer Science