ESD protection design with latchup-free immunity in 120V SOI process

Yi Jie Huang, Ming-Dou Ker, Yeh Jen Huang, Chun Chien Tsai, Yeh Ning Jou, Geeng Lih Lin

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    2 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「ESD protection design with latchup-free immunity in 120V SOI process」主題。共同形成了獨特的指紋。

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