ESD protection design for wideband RF applications in 65-nm CMOS process

Li Wei Chu, Chun Yu Lin, Ming-Dou Ker, Ming Hsiang Song, Jen Chou Tseng, Chewn Pu Jou, Ming Hsien Tsai

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    1 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「ESD protection design for wideband RF applications in 65-nm CMOS process」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering

    Computer Science

    Material Science