ESD protection design for mixed-voltage I/O interfaces - Overview

Ming Dou Ker*, Kun Hsien Lin

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution同行評審

    1 引文 斯高帕斯(Scopus)

    指紋

    深入研究「ESD protection design for mixed-voltage I/O interfaces - Overview」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Material Science

    Engineering