ESD implantation for subquarter-micron CMOS technology to enhance ESD robustness

Ming-Dou Ker*, Hsin Chyh Hsu, Jeng Jie Peng

*此作品的通信作者

    研究成果: Article › 同行評審

    9 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「ESD implantation for subquarter-micron CMOS technology to enhance ESD robustness」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Chemical Compounds

    Engineering & Materials Science