Error Diluting: Exploiting 3-D nand Flash Process Variation for Efficient Read on LDPC-Based SSDs

Kong Kiat Yong, Li Pin Chang*

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

13 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Error Diluting: Exploiting 3-D nand Flash Process Variation for Efficient Read on LDPC-Based SSDs」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Computer Science