Elimination of stress induced oxide leakage in textured tunneling oxide

Reza Rofan*, Jack Churchill, Chen-Ming Hu, Yupin Fong

*此作品的通信作者

    研究成果: Article同行評審

    原文English
    頁(從 - 到)1843-1844
    頁數2
    期刊Solid State Electronics
    35
    發行號12
    DOIs
    出版狀態Published - 1 一月 1992

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