ELECTRON TRAPPING IN VERY THIN THERMAL SILICON DIOXIDES.

Mong Song Liang*, Chen-Ming Hu

*此作品的通信作者

研究成果: Conference article同行評審

102 引文 斯高帕斯(Scopus)
原文English
頁(從 - 到)396-399
頁數4
期刊Technical Digest - International Electron Devices Meeting
DOIs
出版狀態Published - 1 12月 1981

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