Electrical properties of TaN-Cu nanocomposite thin films

C. M. Wang*, J. H. Hsieh, Y. Q. Fu, C. Li, T. P. Chen, U. T. Lam

*此作品的通信作者

研究成果: Conference article同行評審

30 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Electrical properties of TaN-Cu nanocomposite thin films」主題。共同形成了獨特的指紋。

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