Electrical Conductivity Improvement of Point Defects in 4H-SiC

Chih Shan Tan*

*此作品的通信作者

研究成果同行評審

8 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Electrical Conductivity Improvement of Point Defects in 4H-SiC」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Material Science