Electrical characterization of alloy thin films of VSi2 and V3Si

F. Nava*, O. Bisi, P. Psaras, H. Takai, King-Ning Tu

*此作品的通信作者

    研究成果: Article同行評審

    6 引文 斯高帕斯(Scopus)

    指紋

    深入研究「Electrical characterization of alloy thin films of VSi<sub>2</sub> and V<sub>3</sub>Si」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Physics & Astronomy

    Engineering & Materials Science

    Chemical Compounds