Effect of Seed Layer on Gate-All-Around Poly-Si Nanowire Negative-Capacitance FETs with MFMIS and MFIS Structures: Planar Capacitors to 3-D FETs

Shen Yang Lee, Han Wei Chen, Chiuan Huei Shen, Po Yi Kuo, Chun Chih Chung, Yu En Huang, Hsin Yu Chen, Tien Sheng Chao*

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

26 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Effect of Seed Layer on Gate-All-Around Poly-Si Nanowire Negative-Capacitance FETs with MFMIS and MFIS Structures: Planar Capacitors to 3-D FETs」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Material Science

Agricultural and Biological Sciences