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Effect of Local Substrate Removal and Backside Al Heat Dissipation Layer on GaN-on-Si Device RF Performance

研究成果: Article同行評審

指紋

深入研究「Effect of Local Substrate Removal and Backside Al Heat Dissipation Layer on GaN-on-Si Device RF Performance」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering