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Effect of intrinsic-parameter fluctuations on 16-nm-gate CMOS and current mirror circuit

  • Chun Yen Yiu
  • , Yiming Li*
  • , Ming Hung Han
  • , Kuo Fu Lee
  • , Thet Thet Khaing
  • , Hui Wen Cheng
  • , Zhong Cheng Su
    • *此作品的通信作者

研究成果: Conference contribution › 同行評審

4 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Effect of intrinsic-parameter fluctuations on 16-nm-gate CMOS and current mirror circuit」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering

Material Science