Effect of intrinsic-parameter fluctuations on 16-nm-gate CMOS and current mirror circuit

Chun Yen Yiu, Yiming Li*, Ming Hung Han, Kuo Fu Lee, Thet Thet Khaing, Hui Wen Cheng, Zhong Cheng Su

*此作品的通信作者

研究成果: Conference contribution › 同行評審

4 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Effect of intrinsic-parameter fluctuations on 16-nm-gate CMOS and current mirror circuit」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Material Science